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Dissertation beleuchtet Struktur-Eigenschafts-Beziehungen in ZrO₂
Wir gratulieren Dr. Richard Ganser zum erfolgreichen Abschluss seiner Promotion!
27/06/2025
In seiner Dissertation mit dem Titel „Temperature and Electric Field Dependent Effects in Polycrystalline ZrO₂ from Machine Learned Molecular Dynamics“ untersuchte er den Einfluss von Temperatur, Filmdicke und Korngröße auf die Materialeigenschaften polykristalliner ZrO₂-Halbleiterschichten.
ZrO₂ zeichnet sich durch herausragende ferroelektrische Eigenschaften aus und gilt daher als vielversprechendes Material für die Entwicklung zukünftiger Halbleiterspeicher und neuromorpher KI-Chips. Dr. Gansers Forschung leistete einen wichtigen Beitrag zum besseren Verständnis experimentell beobachteter Effekte und ermöglichte fundierte Vorhersagen zur Optimierung der Herstellungsprozesse.
Richard Ganser absolvierte zunächst den Bachelorstudiengang Physikalische Technik (B.Sc.) und anschließend den Masterstudiengang Mikro- und Nanotechnologie (M.Sc.). Seit 2021 ist er als wissenschaftlicher Mitarbeiter im Labor für Modellbildung und Simulation unter der Leitung von Prof. Dr. Alfred Kersch tätig.
Die Promotion entstand dort und in enger Zusammenarbeit mit dem Forschungsinstitut NamLab und der technischen Universität Dresden, wo sie unter der Betreuung von Prof. Dr. Thomas Mikolajick durchgeführt wurde.
